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      篤摯儀器(上海)有限公司
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      德國EPKMinitest1100涂料厚度檢測

      德國EPKMinitest1100涂料厚度檢測

      更新時間:2024-09-26
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      德國EPKMinitest1100涂料厚度檢測;
      所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇Z適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
      F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
      N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
      FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

      德國EPKMinitest1100涂料厚度檢測的詳細資料:

      品牌ElektroPhysik/德國EPK價格區間5千-1萬

      德國EPKMinitest1100涂料厚度檢測

       

      EPK成立與發展

      自1948年德國Steingoever博士發明*臺利用磁吸力原理的測厚儀以來,德國EPK公司一直是表面科技的*之一、是無損涂層厚度測量的。 ElektroPhysik公司(簡稱EPK)總部位于德國科隆,是生產表面檢測儀器的,有超過60年的市場經驗,研發和生產了品種繁多的的測量儀器。質量是EPK的主要目標,EPK從研發到使用、維修各個環節,都符合ISO 9001:2000質量體系,始終為每一個應用領域提供適合的產品。
      EPK在不斷開發和創新科技產品過程中,贏得了良好的聲譽。作為無損檢測厚度行業的*,EPK與國內的研究所和大學合作,實現了涂層厚度測量的成功發展和標準化。將來,EPK將全力發展自己的產品以符合zui高技術要求。
      化的今天,EPK在世界各地都設有自己的分支機構和經銷商。


      可選探頭參數

      所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。

      • F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
      • N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層 
      • FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

       

      關于EPK代理--篤摯儀器

      篤摯儀器(上海)有限公司以“優質成就價值——Focus On Better Quality”為宗旨,專注于計量檢測和材料分析設備的研究、引進與推廣,公司以深厚的工程技術背景和高效率的資源整合幫助企業在原始設計、開發周期、產品質量、在役檢測等各方面顯著提升效率和可靠性。

      篤摯儀器(上海)有限公司擁有源自美國、英國、德國等多地區的合作伙伴,憑借種類齊全的產品資源和服務,涵蓋光學儀器、測量儀器、無損檢測、實驗儀器、分析儀器、量具量儀等各類檢測設備,努力為客戶解決日新月異的測量分析技術挑戰,共同提供定制化精密測量和性能分析系統解決方案,有效推動企業實現既定目標。

      篤摯儀器(上海)有限公司的產品和系統方案廣泛應用于大中型國有企業、汽車制造業、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實驗室和生產線、質量控制和教育事業,用于評價材料、部件及結構的幾何特征和理化性能,推動著精良制造技術的精益求精。

       

      關于德國EPK Minitest 1100測厚儀

      技術參數:

      MINITEST 存儲的數據量
      應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)111099
      每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計計算,并可設寬容度極限值) 11099
      可用各自的日期和時間標識特性的組數 1500500
      數據總量1100001000010000
      MINITEST統計計算功能
      讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar 
      讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk  
      組統計值六種x,s,n,max,min,kvar  
      組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk  
      存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據   
      分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值  
      顯示并打印測量值、打印的日期和時間 
      其他功能
      設置極限值  
      連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別zui大zui小值  
      連續測量模式中測量穩定后顯示讀數  
      連續測量模式中顯示zui小值  

      德國Elektrophysik Minitest 1100測厚儀探頭

      探頭量程低端
      分辨率
      誤差zui小曲率半徑
      (凸/凹)
      zui小測量
      區域直徑
      zui小基
      體厚度
      探頭尺寸



      F050-500μm0.1μm±(1%±0.7μm)1/5mm3mm0.2mmφ15x62mm
      F1.60-1600μm0.1μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mm0.5mmφ15x62mm
      F1.6/900-1600μm0.1μm±(1%±1μm)平面/6mm5mm0.5mmφ8x8x170mm
      F2/900-2000μm0.2μm±(1%±1μm)平面/6mm5mm0.5mmφ8x8x170mm
      F30-3000μm0.2μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mm0.5mmφ15x62mm
      F100-10mm5μm±(1%±10μm)5/16mm20mm1mmφ25x46mm
      F200-20mm10μm±(1%±10μm)10/30mm40mm2mmφ40x66mm
      F500-50mm10μm±(3%±50μm)50/200mm300mm2mmφ45x70mm

      FN1.60-1600μm0.1μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mmF0.5mm/N50μmφ15x62mm
      FN1.6P0-1600μm0.1μm±(1%±1μm)平面30mmF0.5mm/N50μmφ21x89mm
      FN20-2000μm0.2μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mmF0.5mm/N50μmφ15x62mm



      N020-200μm0.1μm±(1%±0.5μm)1/10mm2mm50μmφ16x70mm
      N.08Cr0-80μm0.1μm±(1%±1μm)2.5mm2mm100μmφ15x62mm
      N1.60-1600μm0.1μm±(1%±1μm)1.5/10mm2mm50μmφ15x62mm
      N1.6/900-1600μm0.1μm±(1%±1μm)平面/10mm5mm50μmφ13x13x170mm
      N20-2000μm0.2μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mm50μmφ15x62mm
      N2/900-2000μm0.2μm±(1%±1μm)平面/10mm5mm50μmφ13x13x170mm
      N100-10mm10μm±(1%±25μm)25/100mm50mm50μmφ60x50mm
      N200-20mm10μm±(1%±50μm)25/100mm70mm50μmφ65x75mm
      N1000-100mm100μm±(1%±0.3mm)100mm/平面200mm50μmφ126x155mm
      CN0210-200μm0.2μm±(1%±1μm)平面7mm無限制φ17x80mm

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