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      Fischer Couloscope CMS2

      Fischer Couloscope CMS2

      更新時間:2024-09-25
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      Fischer Couloscope CMS2:
      1、Fischer菲希爾Couloscope CMS2測厚儀 (庫侖測量系統)使用庫侖方法測量鍍層厚度。配備了一個大的,易讀取的液晶顯示器,直觀的菜單指引系統,該儀器理想的適用于測量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度,包括多鍍層。使用在不能進行或不需要進行非破壞性測試方法

      Fischer Couloscope CMS2的詳細資料:

      品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區間面議
      產地類別進口應用領域電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件

      Fischer Couloscope CMS2


      篤摯儀器是德國菲希爾的專業代理商,主要經營德國菲希爾 Helmut FISCHER便攜式涂鍍層測厚儀、X射線鍍層測厚儀等,我公司信譽良好,貨真價實,擁有多年從業經驗,致力于解決客戶生產制造和質量控制過程中的應用難題。詢價!

      Fischer Couloscope CMS2庫倫法測厚儀

      介紹:

      1、Fischer菲希爾Couloscope CMS2測厚儀 (庫侖測量系統)使用庫侖方法測量鍍層厚度。配備了一個大的,易讀取的液晶顯示器,直觀的菜單指引系統,該儀器理想的適用于測量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度,包括多鍍層。使用在不能進行或不需要進行非破壞性測試方法的場合。

      2、Fischer菲希爾Couloscope CMS2測厚儀 地測量范圍在0.05 - 40 µm (0.002 - 1.6 mils)之間的金屬鍍層。該設備可以存儲上百條預先定義好的鍍層/基材應用,從單鍍層,例如鋅在鋼上,直至三鍍層,例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。

      3、用來測定多層鎳鍍層系統中各個單個的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學電位差。在電鍍工業中,對多層鎳的測量變得越來越重要了,雙層鎳的測量已成為一種標準的操作。

      儀器高的電壓分辨率可以測量頂層為微孔鎳或微裂紋鎳與下層光亮鎳之間的電位,以及光亮鎳和半光亮鎳之間的電位。(還可以是光亮鎳和半光亮鎳之間的高的硫化鎳)

      典型應用:
      同時測量雙層鎳或三層鎳鍍層的厚度和電化學電位。 
      幾乎可以測量所有金屬或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度,甚至是多鍍層系統。

      在工業和特殊領域內的具體應用范圍:
      電鍍工業中的產品監控;由于新穎電極簡便的操作,該儀器*地適用于電鍍車間繁雜的工作環境! 成品的入庫檢驗,例如汽車工業中鉻合金輪轂澆筑件(帶雙層鎳)。






      大屏幕點陣液晶顯示屏,可顯示文字與圖形:126 * 70 mm  
      可設置和儲存:50個應用程式、600個數據組;3 000個數據
      統計:平均值、最大值、最小值、標準偏差、測量次數、Cp、Cpk        
      使用多層菜單和軟鍵,使操作更方便
      RS232 接口可通過電纜和傳輸軟件將數據傳到 PC
      模擬輸出: 0 ~ -18V
      輸入阻抗: > 2 KΩ
      工作溫度: 10 ℃ ~ 40 ℃
      儀器重量: 6 kg
      電源: AC 220 V ,50-60 Hz;zui大功耗 ≤ 85 VA
      尺寸: 350W * 140H * 200D  mm




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