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篤摯儀器（上海）有限公司
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PhaScope PMP10測(cè)厚儀非接觸式測(cè)量

更新時(shí)間：	2024-09-24
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PhaScope PMP10測(cè)厚儀非接觸式測(cè)量
勵(lì)磁電流產(chǎn)生高頻磁場(chǎng)，該磁場(chǎng)在材料（鍍層或基材）中感生渦流。
應(yīng)用鍍層材料和底層材料中渦流的形態(tài)不同進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量。
利用對(duì)材料電導(dǎo)率的函數(shù)關(guān)系，可以測(cè)量導(dǎo)電性。
勵(lì)磁電流與測(cè)量信號(hào)之間的相位改變量 φ 轉(zhuǎn)變成鍍層厚度值，或各自的電導(dǎo)率值。
在由探頭決定的一定范圍內(nèi)，讀數(shù)與探頭和鍍層表面的距離無(wú)關(guān)－非接觸測(cè)量

PhaScope PMP10測(cè)厚儀非接觸式測(cè)量的詳細(xì)資料：

品牌	Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾

PhaScope PMP10測(cè)厚儀非接觸式測(cè)量

渦流相位法原理：
勵(lì)磁電流產(chǎn)生高頻磁場(chǎng)，該磁場(chǎng)在材料（鍍層或基材）中感生渦流。
應(yīng)用鍍層材料和底層材料中渦流的形態(tài)不同進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量。
利用對(duì)材料電導(dǎo)率的函數(shù)關(guān)系，可以測(cè)量導(dǎo)電性。
勵(lì)磁電流與測(cè)量信號(hào)之間的相位改變量 φ 轉(zhuǎn)變成鍍層厚度值，或各自的電導(dǎo)率值。
在由探頭決定的一定范圍內(nèi)，讀數(shù)與探頭和鍍層表面的距離無(wú)關(guān)－非接觸測(cè)量

使用針對(duì)特定測(cè)量任務(wù)進(jìn)行了優(yōu)化的探針，PHASCOPE®PMP10特別適用于以下幾種：

測(cè)量鋼上鎳的鍍層厚度
測(cè)量鋼上的鋅或銅 - 盡管表面粗糙，表面幾何復(fù)雜
測(cè)量有色金屬上有色金屬的厚度，給出足夠的導(dǎo)電性差異，例如黃銅或青銅上的銅
測(cè)量絕緣基板上有色金屬的厚度，如電路板上的銅層。

探頭選擇

探頭型號(hào)	量程	應(yīng)用
ESL080B	5-100 um	測(cè)量PCB通孔直徑范圍0.8–2mm的銅的厚度
ESL080V	5-100 um	測(cè)量PCB通孔直徑上銅的厚度，尤其是厚的PC板
ESD20Cu	1 -270 um	測(cè)量PC板上銅的厚度
ESD20Zn	1-200 um (Cu/Fe) 2-200 um (Zn/Fe	低導(dǎo)電率基體上的高導(dǎo)電率涂層，如銅/黃銅低導(dǎo)電率基體上的高導(dǎo)電率涂層，如銅/黃銅
ESD20Ni	2-100 um Ni/Fe (60 kHz) Or 1-50 um Ni/Fe (240 kHz)	粗糙表面或保護(hù)漆表面，鐵或鐵磁鋼上鎳層的測(cè)量。
ESD2.4	1-150 um	低導(dǎo)電率基體上的高導(dǎo)電率涂層，如銅/黃銅。特別適用于小型傳感器上的零部件

特點(diǎn)：

手持式儀器，根據(jù)相位敏感電渦流法快速、準(zhǔn)確地測(cè)量鍍層厚度，符合 DIN EN ISO 21968 標(biāo)準(zhǔn)
可測(cè)量印刷電路板上的銅厚度（頻率為60 kHz 或 240 kHz 的探頭 ESD20Cu）
可測(cè)量印刷電路板中孔銅厚度（探頭 ESL080）
可測(cè)量鐵、非鐵金屬或非導(dǎo)電部件上金屬涂層的厚度
提供的電腦軟件FISCHER DataCenter®具有以下功能：傳輸和保存測(cè)量值，全面的統(tǒng)計(jì)和圖形化評(píng)估，簡(jiǎn)便生成并打印個(gè)人檢測(cè)報(bào)告

典型應(yīng)用領(lǐng)域：