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菲希爾FMP40測(cè)厚儀測(cè)量誤差和重復(fù)精度

更新時(shí)間：	2024-09-24
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菲希爾FMP40測(cè)厚儀測(cè)量誤差和重復(fù)精度
自動(dòng)識(shí)別底材
DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀能夠通過(guò)外部觸發(fā)測(cè)量（例如：測(cè)量直徑很小的空心圓柱體的內(nèi)壁）
使用未知材料的鍍層進(jìn)行校準(zhǔn)（僅限于磁感應(yīng)法）
菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀配備 USB接口可以連接計(jì)算機(jī)和打印機(jī)
膜厚儀能夠手動(dòng)糾正已儲(chǔ)存的讀數(shù)
膜厚儀包含應(yīng)用程式關(guān)聯(lián)功能：多個(gè)應(yīng)用程式能使用相同的歸

菲希爾FMP40測(cè)厚儀測(cè)量誤差和重復(fù)精度的詳細(xì)資料：

品牌	Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾

菲希爾FMP40測(cè)厚儀測(cè)量誤差和重復(fù)精度

自動(dòng)識(shí)別底材
DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀能夠通過(guò)外部觸發(fā)測(cè)量（例如：測(cè)量直徑很小的空心圓柱體的內(nèi)壁）
使用未知材料的鍍層進(jìn)行校準(zhǔn)（僅限于磁感應(yīng)法）
菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀配備 USB接口可以連接計(jì)算機(jī)和打印機(jī)
膜厚儀能夠手動(dòng)糾正已儲(chǔ)存的讀數(shù)
膜厚儀包含應(yīng)用程式關(guān)聯(lián)功能：多個(gè)應(yīng)用程式能使用相同的歸一化/校準(zhǔn)信息
通過(guò)電腦計(jì)算機(jī)可以編輯應(yīng)用程式名稱（可選件：MP-Name軟件）
擁有數(shù)據(jù)組統(tǒng)計(jì)值和所有數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)值
菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀能夠展現(xiàn)測(cè)量數(shù)據(jù)直方圖顯示

菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀電渦流方法：
通過(guò)探頭的激勵(lì)電流產(chǎn)生一個(gè)高頻初級(jí)磁場(chǎng)區(qū)域，該磁場(chǎng)在基材內(nèi)產(chǎn)生感生電渦流，次級(jí)磁場(chǎng)區(qū)域削弱初級(jí)磁場(chǎng)區(qū)域，削弱影響相當(dāng)于探頭和基材之間的距離即涂鍍層的厚度，然后通過(guò)儲(chǔ)存在儀器內(nèi)的探頭特征曲線將削弱影響轉(zhuǎn)換為涂鍍層厚度值顯示出來(lái)。

測(cè)量原理	磁性測(cè)厚法，能快速、無(wú)損傷、精頦地進(jìn)行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測(cè)量	電渦流法測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度
探頭型號(hào)	FGA1.3磁感應(yīng)探頭	FTA3.3H電渦流探頭
測(cè)量范圍μm	0 ～ 1500μｍ，測(cè)量精度： 0～50μｍ，± 0.25μｍ；50～1000μｍ，± 0.5 ％； 1000～1500μｍ， < 2.5%。	0 ～ 1 200μｍ。測(cè)量精度：0～50μｍ，± 0.25μｍ；50～800μｍ，± 0.5 ％；800～1200μｍ，< 2.5%
重量g	230	230
規(guī)格	(160 x 80 30)	(160 x 80 x 30)

儀器主要技術(shù)參數(shù)：

設(shè)備型號(hào)	DUALSCOPE FMP100
選配探頭	雙功能探頭Probe FD10：用于根據(jù)磁感應(yīng)和渦流方法來(lái)測(cè)量涂鍍層厚度，帶微處理芯片的智慧型插入式探頭，彈性測(cè)量系統(tǒng)。電纜長(zhǎng)度：1.5m（5 feet）
分辨率	0.1um
測(cè)量應(yīng)用及測(cè)量范圍	0-1300um NF/Fe 0-800um ISO/NF
測(cè)量方法	磁感應(yīng)/渦流法自動(dòng)識(shí)別
測(cè)量誤差以Fischer標(biāo)準(zhǔn)片為準(zhǔn)	NF/Fe 0-50um：≤0.5um 50-1300um：≤1% ISO/NF 0-100um：≤0.5um 100-800um：≤1%
重復(fù)精度以Fischer標(biāo)準(zhǔn)片為準(zhǔn)	0-100um：≤0.25um 100-1300um：≤0.5%