聯(lián)系人：張先生
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EPK測(cè)厚儀MIKROTEST F6的詳細(xì)資料：
| 品牌 | ElektroPhysik/德國(guó)EPK | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車(chē)及零部件 |
MIKROTEST F6
測(cè)量使用要求
1、在平面上測(cè)量
測(cè)量面方位對(duì)于測(cè)量沒(méi)有影響，注意技術(shù)數(shù)據(jù)表中所列的zui 小測(cè)量范圍和基體的厚度。
2、在曲面上測(cè)量 測(cè)量圓柱或圓形邊緣時(shí)，可以利用儀器測(cè)嘴上的 V 型口。測(cè)量凹面時(shí)與測(cè)量平面相同，但要注意zui小曲率的 限制。
3、在粗糙表面測(cè)量
在粗糙表面測(cè)量時(shí)，讀數(shù)將增大（特別是在顆粒尖上）。 在特別粗糙（如峰值超過(guò)50um 的鋼基體上，并且涂層厚度超過(guò) 100um 時(shí)，實(shí)際讀數(shù)高于涂層真實(shí)厚度達(dá)20％之多。在這種情況 下應(yīng)至少測(cè)量6 次以上，得出平均值。
4、檢查度
測(cè)厚儀裝有磁鋼，在正常使用時(shí)是不會(huì)發(fā)生變化的。通常只 需偶爾或在懷疑讀數(shù)的正確性時(shí)去測(cè)量厚度標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)行調(diào)整。
技術(shù)參數(shù)
型 號(hào) | 測(cè)量范圍 | 讀值精度 | 小測(cè)量區(qū) 直徑 | 小半徑 凸 凹 mm mm | 基體 小 厚度mm | 適合用于 |
MIKROTEST G 6 | 0－100μm | 1μm或5％讀值 | 20mm | 5 25 | 0.5 | 鋼鐵上電鍍層、漆、搪瓷、塑料、橡膠層 |
MIKROTEST F 6 | 0－1000μm | 5μm或5％讀值 | 30mm | 8 25 | 0.5 | |
MIKROTEST 6 S3 | 0.2－3mm | 5％讀值 | 30mm | 15 25 | 1.0 | |
MIKROTEST 6 S5 | 0.5－5mm | 5％讀值 | 50mm | 15 25 | 1.0 | |
MIKROTEST 6 S10 | 2.5－10mm | 5％讀值 | 50mm | 15 25 | 2.0 | |
MIKROTEST 6 S20 | 7.5－20mm | 5％讀值 | 1000mm | 100 150 | 7.0 | |
MIKROTEST 6 Ni50 | 0- 50μm | 1μm+5%讀數(shù) | 15mm | 5 25 | - | 非鐵制基體上鍍鎳 |
MIKROTEST 6 Ni100 | 0- 100μm | |||||
MIKROTEST NIFE50 | 0－50μm | 2μm + 8％讀值 | 20mm | 10 25 | 0.5 | 鐵上電鍍鎳 |
MIKROTEST覆層測(cè)厚儀刻度表盤(pán)
從上表可選出 適用型號(hào)的MIKROTEST覆層測(cè)厚儀解決您所遇到的問(wèn)題。MIKROTEST覆層測(cè)厚儀易于操作，測(cè)量時(shí)只需向前旋動(dòng)指輪到標(biāo)尺端部，將測(cè)頭定在測(cè)量區(qū)上，松開(kāi)自鎖機(jī)構(gòu)，開(kāi)始自動(dòng)測(cè)量。MIKROTEST鎖定后，就能直接在標(biāo)尺上顯示出涂層厚度的正確值，單位μm或mm。按說(shuō)明書(shū)規(guī)定操作，MIKROTEST覆層測(cè)厚儀 可不間斷地使用很多年，為您進(jìn)行質(zhì)量控制。
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