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    • Dualscope MP*解決

      Dualscope MP*解決

      更新時(shí)間:2024-09-23
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      Dualscope MP*解決: 涂層測(cè)厚儀是一種無(wú)損用于各種金屬材料表面涂層厚度檢測(cè)的儀器,用戶(hù)在使用過(guò)程中,有時(shí)候會(huì)有一些異常出現(xiàn),這些異常有時(shí)候我們自己是可以處理的,根據(jù)長(zhǎng)期以來(lái)涂層測(cè)厚儀的應(yīng)用經(jīng)驗(yàn),下面我們就來(lái)說(shuō)說(shuō)涂層測(cè)厚儀常見(jiàn)故障及處理方法。

      Dualscope MP*解決的詳細(xì)資料:

      品牌Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾

      Dualscope MP*解決

      1 常見(jiàn)故障及處理方法.

      1.儀器不開(kāi)機(jī)
      ①請(qǐng)檢查確認(rèn)電池是否有電,或更換新的電池。 
      ②請(qǐng)檢查電池是否接觸良好,且電極片沒(méi)有氧化或生銹等(如生銹可用工具刮掉氧化層). 
      ③請(qǐng)檢查按鍵是否按壓到位,且按鍵正常有彈性。 
      ④其它主機(jī)線路故障,咨詢(xún)公司售后服務(wù)或返廠檢修. 
      2.儀器測(cè)量不準(zhǔn)
      ①請(qǐng)先行系統(tǒng)校準(zhǔn)儀器,標(biāo)定,使之符合誤差范圍。誤差遵循≦3%(厚度值),如需測(cè)試更加精準(zhǔn)請(qǐng)?jiān)诒粶y(cè)工件的光滑裸基上(未涂裝的基體上)進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)。 
      ②請(qǐng)檢查探頭前端是否磨損,是否變形,有附著物質(zhì)等,探頭外護(hù)套是否不在水平等,變形可適當(dāng)用砂紙打磨修正,處理干凈.
      ③被測(cè)件基材表面粗糙度影響,引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,測(cè)量時(shí)在不同位置增加測(cè)量次數(shù),克服偶然誤差。或用砂紙打磨基材重新校對(duì)儀器零點(diǎn)。 
      ④測(cè)量手法以及探頭的放置,測(cè)試的時(shí)候需保持探頭與試樣垂直 
      ⑤被測(cè)件曲度,在該探頭所適應(yīng)的曲率半徑下,重新校準(zhǔn)。尤其管道凸面,注意探頭V型卡槽穩(wěn)定放置。 
      3.儀器無(wú)法測(cè)量
      ①檢查探頭是否連接良好,插到位.
      ②檢查探頭線是否有斷的地方,重點(diǎn)檢查探頭接插件處(接頭處可以旋鈕擰開(kāi)查看) 
      ③探頭頻繁大量使用,傳感器老化或損壞,燙傷等
      ④其它主機(jī)線路元件故障
      4.測(cè)量無(wú)數(shù)據(jù)變化
      ①探頭是否連接良好探頭是否損壞等 

      2  故障查找

      信息

      解釋 / 可能原因

      解決方法

      Er1

      內(nèi)部錯(cuò)誤。

      進(jìn)行歸零步驟。

      如錯(cuò)誤重復(fù)出現(xiàn),聯(lián)絡(luò)Fischer維修部。

      Er4

      內(nèi)存測(cè)量數(shù)據(jù)儲(chǔ)存滿。

      刪除內(nèi)存測(cè)量數(shù)據(jù)。

      Er5

      無(wú)法確定底材值。

       

      用合適的標(biāo)準(zhǔn)片校正。

      校正標(biāo)準(zhǔn)片至少要有實(shí)際工件涂鍍層的1/2(在涂層上校正時(shí))

       

       

      信息

      解釋 / 可能原因

      解決方法

      Er6

       

      超出測(cè)量范圍,不能顯示讀數(shù)。

      原因: 涂鍍層太厚。

      原因: 不正確測(cè)量。

      原因: 歸零或校正方法有誤。

      涂鍍層厚度在儀器測(cè)量范圍內(nèi)。

      正確測(cè)量 (例如: 在測(cè)量前或后,不要把儀器放在工件上徘徊;在測(cè)量后不要太快提起儀器)

      Er7

      歸零或校正時(shí),非正常值被認(rèn)可了。

      - 不正確測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)片。

       

       

       

       

      - 要求測(cè)量底材時(shí)卻測(cè)量了標(biāo)準(zhǔn)片。

      - 測(cè)量有折痕的標(biāo)準(zhǔn)片。

      - 測(cè)量時(shí),儀器沒(méi)有平放在工件或標(biāo)準(zhǔn)片上。

      刪除內(nèi)存數(shù)據(jù),重新測(cè)量。

      重新正確歸零或校正 (例如:在測(cè)量前或后,不要把儀器放在工件上徘徊;在測(cè)量后不要太快提起儀器)

       

       

      在同一工件上測(cè)量多次取其平均值歸零。

      更換標(biāo)準(zhǔn)片。

      正確測(cè)量,將儀器平放在工件或標(biāo)準(zhǔn)片上。

      Er12

      校正時(shí)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)片順序錯(cuò)誤。

      按正確的順序重新校正。 

      Er13

      主校準(zhǔn)時(shí),標(biāo)準(zhǔn)片的間隔不在允許范圍內(nèi)。

       

      使用了錯(cuò)誤的標(biāo)準(zhǔn)片

       

      誤操作,在標(biāo)準(zhǔn)片上而不是在底材上歸零。

      通知客戶(hù)服務(wù)部門(mén)。

       

      使用正確的標(biāo)準(zhǔn)片。

       

      在底材上歸零。

      Er14

      儀器內(nèi)部錯(cuò)誤: 無(wú)法計(jì)算主校準(zhǔn)參數(shù)。原始主校準(zhǔn)參數(shù)被保留。

      重做主校正。
      如果錯(cuò)誤重復(fù)出現(xiàn):
      客戶(hù)服務(wù)部門(mén)。

      Er15

      無(wú)法儲(chǔ)存主校準(zhǔn)參數(shù)。
      探頭可能已損害。

      客戶(hù)服務(wù)部門(mén)。

      Er17

      讀數(shù)不夠, 因此無(wú)法結(jié)束一個(gè)組 

      再測(cè)幾個(gè)數(shù)據(jù),直到*組可以結(jié)束,然后產(chǎn)生一個(gè)新的統(tǒng)計(jì)值。

      Er22

      儀器內(nèi)部錯(cuò)誤: 錯(cuò)誤訪問(wèn)內(nèi)存或EEPROM

       

      客戶(hù)服務(wù)部門(mén)。

       

       

      Er28

      儀器內(nèi)部錯(cuò)誤: 無(wú)法計(jì)算測(cè)量數(shù)據(jù)。

      客戶(hù)服務(wù)部門(mén)。 

      Dualscope MP0

      技術(shù)規(guī)格:

      量 程:0~2000μm。

      精 度:1μm(0~50μm);2%(50μm~1000μm);3%(1000μm~2000μm)。

      重復(fù)精度: ±0.5μm(0~100μm); ±0.5%(>100μm)。

      zui小測(cè)量曲率直徑:在精度范圍內(nèi),鐵基φ35mm,非鐵基φ50mm

      (在允許誤差<10%時(shí),鐵基為φ10mm,非鐵基為φ2mm)。

      zui小測(cè)量面積直徑:φ4mm(在允許誤差<10%時(shí),為φ2mm)。

      zui小基體厚度:鐵基0.2mm(誤差<10%時(shí));非鐵基0.09mm(誤差<10%時(shí))。

      重 量:60g(不含電池)。

      外形尺寸:64mm×30m×85mm。

      電 源:兩節(jié)5號(hào)電池。

       


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