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      DualScope FMP40校準步驟

      DualScope FMP40校準步驟

      更新時間:2024-09-23
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      DualScope FMP40校準步驟:校準是使用標準片和底材對儀器進行調校,使測量結果準確的方法。

      DualScope FMP40校準步驟的詳細資料:

      品牌Helmut Fischer/德國菲希爾

      DualScope FMP40校準步驟

       

      操作方法   
       
      測量過程中始終握住探頭袖部(grip sleeve) z 測量中保持垂直,穩定,恒力地將探頭接觸到被測工件表面,默認情況下,隨后儀器會發出“滴” 聲,并且在屏幕上顯示出讀數 z 提起探頭,測量下一個讀數 

      注:避免硬碰撞探頭不要在工件上方徘徊,這樣做會產生錯誤讀數 

       

      校準  

      校準是使用標準片和底材對儀器進行調校,使測量結果準確的方法。 

       
      按 CAL 鍵 
      『S』:標準偏差 『n』:測量次數 『Base material(Fe/NF)』:測量底材是鋼鐵等磁性金屬還是非鐵金屬。 
      在底材上測量 4-5 次。 按 ENTER 鍵 
      『CAL-rat.1:23.70』: 在此將標準片上的標稱值通過∧、∨鍵輸入主機。 『ENTER: ∧∨』:在測量玩標準片后按∧或∨鍵來輸入標準值。 
      在底材上放置標準片 1(箔 1)→進行幾次測量 如果做 2 點校準,則標準片由薄到厚 按 ∧,∨ 設置箔片厚度→ENTER(一直按住數字會快速跳動) 按 2 次 ENTER,完成調校。 
       
       


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