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      產品展示首頁 > 產品中心 > 德國Fischer菲希爾 > Fischer測厚儀 > Fischer進口DualScope FMP40測厚儀
            
              
       
		
      
		     
       
		
      
		
      	  
			Fischer進口DualScope FMP40測厚儀		 
      
		 
		 
		 
       
		   
      Fischer進口DualScope FMP40測厚儀
      
			
      
			 
      更新時間：2024-09-23
      			 
			 
      報     價：  
      				
			
      
			
      
			   
      

      
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      Fischer進口DualScope FMP40測厚儀：通過探頭的激勵電流產生一個低頻磁場區域，該磁場的強度取決于涂鍍層厚度并經磁性基材放大。測量線圈捕獲這個放大信號，然后通過儲存在儀器內的探頭特征曲線將信號轉換為涂鍍層厚度。
      
		
       
		
      
		
       
			   
      Fischer進口DualScope FMP40測厚儀的詳細資料：
       


                
      
                	
                    
      
                        
                            
                                
      品牌Helmut Fischer/德國菲希爾 
      
                            
                              
                    
      
                
      Fischer進口DualScope FMP40測厚儀
       
      基本參數
      測量范圍：
      		0-2000um mm
      計量單位：
      		臺
      類型：
      		涂層測厚儀
      顯示方式：
      		顯示屏
      品牌：
      		Fischer/菲希爾
      型號：
      		DualScope FMP40
      加工定制：
      		否
       
       
       
       
       
       
       
       
      菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀 能夠自動識別底材材料并且集成了兩種測量方法，使這個系列的儀器可以測量鋼材和鐵材亦或是非鐵磁基材上的大部分涂鍍層的厚度。 菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀由于集合了兩種測量方法，這個系列的儀器還能夠在一次測量過程中同時測得兩層涂鍍層的厚度（油漆層/鋅層），并且分別顯示出來。
      菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀采用了磁感應和電渦流兩種方法。
      菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀采用的磁感應方法：
      菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀通過探頭的激勵電流產生一個低頻磁場區域，該磁場的強度取決于涂鍍層厚度并經磁性基材放大。 菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀探頭測量線圈捕獲這個放大信號，然后通過儲存在儀器內的探頭特征曲線將信號轉換為涂鍍層厚度。
      應用：鋅、鉻、銅等電鍍層或涂覆或噴濺上去的非磁性鍍層或油漆、塑料等涂層在鋼和鐵上。
      菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀采用的電渦流方法：
      菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀通過探頭的激勵電流產生一個高頻初級磁場區域，該磁場在基材內產生感生電渦流，次級磁場區域削弱初級磁場區域，削弱影響相當于探頭和基材之間的距離即涂鍍層的厚度，然后通過儲存在儀器內的探頭特征曲線將削弱影響轉換為涂鍍層厚度值顯示出來。
       
      Fischer進口DualScope FMP40測厚儀
      菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀This universal instrument can be used to measure numerous coatings both on iron/steel and on non-ferromagnetic metals and non-conducting carrier materials.
       
       
      自動識別底材
      DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀能夠通過外部觸發測量（例如：測量直徑很小的空心圓柱體的內壁）
      使用未知材料的鍍層進行校準（僅限于磁感應法）
       菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀配備 USB接口可以連接計算機和打印機
      膜厚儀能夠手動糾正已儲存的讀數
      膜厚儀包含應用程式關聯功能：多個應用程式能使用相同的歸一化/校準信息
      通過電腦計算機可以編輯應用程式名稱（可選件：MP-Name軟件）
      擁有數據組統計值和所有數據統計值
      菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀能夠展現測量數據直方圖顯示
       

       
			
      
			
      
                                
      
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                請輸入計算結果（填寫阿拉伯數字），如：三加四=7
            
        
		
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