X-Ray菲希爾X熒光射線測(cè)厚儀多鍍層可測(cè)量的詳細(xì)資料：

X-Ray菲希爾X熒光射線測(cè)厚儀多鍍層可測(cè)量

X-Ray菲希爾X熒光射線測(cè)厚儀多鍍層可測(cè)量

 德國(guó)菲希爾XDAL X射線熒光測(cè)厚儀的測(cè)量空間寬大，可以用于測(cè)量復(fù)雜幾何形狀的各種樣品。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)可調(diào)節(jié)的Z軸允許放置Z高可達(dá)140mm高度的樣品。C型槽設(shè)計(jì)可以方便地測(cè)量諸如印刷線路板等大平面樣品。

 德國(guó)菲希爾XDAL X射線熒光測(cè)厚儀
產(chǎn)品描述：
在設(shè)計(jì)上，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對(duì)應(yīng)。區(qū)別在于使用的探測(cè)器類型不同。在德國(guó)菲希爾XDAL X射線熒光測(cè)厚儀使用了帕爾貼制冷的硅PIN探測(cè)器，從而有了遠(yuǎn)好于XDLM使用的比例計(jì)數(shù)器的能量分辨率。因而，這臺(tái)儀器適合于一般材料分析，痕量元素分析及測(cè)量薄鍍層厚度。
X射線源是一個(gè)能產(chǎn)生很小光斑面積的微聚焦X射線管。然而，由于相對(duì)較小的探測(cè)器有效接收面積（相比較比例計(jì)數(shù)器探測(cè)器來(lái)說(shuō)），信號(hào)強(qiáng)度低，故XDAL有限適用于極微小結(jié)構(gòu)和測(cè)量點(diǎn)的測(cè)量。和XDLM類似，準(zhǔn)直器和基本濾片是可自動(dòng)切換，以便為不同測(cè)量程式創(chuàng)造激勵(lì)條件。
德國(guó)菲希爾XDAL X射線熒光測(cè)厚儀的測(cè)量空間寬大，可以用于測(cè)量復(fù)雜幾何形狀的各種樣品。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)可調(diào)節(jié)的Z軸允許放置高可達(dá)140mm高度的樣品。C型槽設(shè)計(jì)可以方便地測(cè)量諸如印刷線路板等大平面樣品。
測(cè)量系統(tǒng)配有快速可編程的XY平臺(tái)，因而可以方便地按照預(yù)定程序掃描檢查樣品表面。此外，在如引線框架等樣品上進(jìn)行多點(diǎn)測(cè)量，或是在多個(gè)不同樣品上進(jìn)行批量測(cè)量，都可以通過(guò)快速編程自動(dòng)化地完成。
由于XY平臺(tái)在艙門(mén)打開(kāi)時(shí)，能自動(dòng)彈出到加載樣品位置，故而樣品放置定位變得十分簡(jiǎn)便。激光點(diǎn)標(biāo)示處就是樣品的測(cè)量位置。
產(chǎn)品特征：
帶有鈹窗口和鎢鈀的微聚焦X射線管。高工作條件： 50 kV, 50W
X射線探測(cè)器采用珀?duì)柼吕涞墓鑀IN二極管
準(zhǔn)直器：4個(gè)，可自動(dòng)切換，從直徑? 0.1mm 到 ? 0.6 mm
基本濾片：3個(gè)，可自動(dòng)切換
測(cè)量距離可在0—80mm范圍內(nèi)調(diào)節(jié)
可編程XY平臺(tái)
視頻攝像頭可用來(lái)實(shí)時(shí)查看測(cè)量位置，十字線上有經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)的刻度標(biāo)尺，而測(cè)量點(diǎn)實(shí)際大小也在圖像中顯示。
設(shè)計(jì)獲得許可，防護(hù)全面，符合德國(guó)X射線條例第4章第3節(jié)
典型應(yīng)用領(lǐng)域：
鍍層與合金的材料分析（包括薄鍍層以及低含量）。來(lái)料檢驗(yàn)，生產(chǎn)監(jiān)控。
研發(fā)項(xiàng)目
電子行業(yè)
接插件和觸點(diǎn)
黃金、珠寶及手表行業(yè)
測(cè)量印刷線路板上僅數(shù)個(gè)納米的Au和Pd
鍍層
痕量分析
根據(jù)高可靠性要求測(cè)量鉛Pb含量
分析硬質(zhì)鍍層材料
應(yīng)用實(shí)例：
德國(guó)菲希爾XDAL X射線熒光測(cè)厚儀可以用來(lái)測(cè)量SnPb焊層中的鉛含量。在這一應(yīng)用中，首先要準(zhǔn)確測(cè)量SnPb的厚度以便分析Pb的含量。按照航空航天工業(yè)中高可靠性的要求，為避免裂紋的出現(xiàn)，合金中Pb的含量至少必須在3%以上。另一方面，對(duì)于日常使用的電子產(chǎn)品，根據(jù)RoHS指令要求，Pb在焊料中的含量多不能超過(guò)1000ppm。盡管XDAL測(cè)量Pb含量的測(cè)量下限取決于SnPb鍍層的厚度，但是通常情況下XDAL的測(cè)量下限足夠低，可以很輕易達(dá)到以上的測(cè)量需求。