FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215 是一款高性價比的入門級能量色散型 X 射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，專為無損分析場景設計，尤其適用于珠寶、錢幣、貴金屬等領域的檢測需求。

核心技術優勢

• 多元素精準分析：可覆蓋從氯（17 號元素）到鈾（92 號元素）的廣泛元素范圍，最多可同時測定 24 種元素，精準解析貴金屬及其合金的成分構成。

• 高效穩定性能：延續 FISCHERSCOPE X-RAY 系列的品質，具備初始高準確性與長期穩定性，大幅降低儀器校準所需的時間與人力成本。

• 創新分析方法：采用先進的 Si-PIN 基本參數法，無需校驗標準片校正，即可快速分析固態、液態樣品的成分，并精確測量鍍層厚度，簡化操作流程。

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN215產品應用

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215 在多個領域發揮關鍵作用，典型應用場景包括：

• 貴金屬及合金分析

• 珠寶、牙科用合金成分檢測

• 黃金制品、K 金制品純度鑒定

• 鉑金、銀制品成分分析

• 銠制品成分及鍍層檢測

• 鍍層厚度測量

• 各類合金材料的單層及多鍍層厚度精確測量